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產(chǎn)品型號(hào)：ZSX Primus IVi廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-09-29訪 問 量：351
產(chǎn)品分類
CLASSIFICATION
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詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
通過為頂部照明型 ZSX Primus IV 和底部照明型 ZSX Primus IVi 創(chuàng)建通用的硬件和軟件平臺(tái)，可以在兩個(gè)型號(hào)之間以及同一型號(hào)之間輕松共享應(yīng)用程序。
SQX分析是利用定性分析結(jié)果進(jìn)行定量分析的無標(biāo)準(zhǔn)FP分析。
?評(píng)估重元素產(chǎn)生的高次譜線的影響，自動(dòng)選擇最佳測(cè)量條件，實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的SQX分析
?新增恒定角度測(cè)量設(shè)置模式，可在EZ掃描中檢測(cè)微量元素
?EZ配備超高速需要不到 2 分鐘測(cè)量時(shí)間的掃描模式
- 支持多層薄膜樣品的篩選分析
- 任何樣品薄膜都可以添加樣品薄膜校正
- SQX 散射線 FP 分析（針對(duì)粉末和聚合物）現(xiàn)在直徑為 30 毫米兼容
- 重新計(jì)算 SQX 時(shí)可以更改為 SQX 散射線 FP 分析
通過在樣品室和光譜室之間添加真空隔板，可以縮短更換氦氣氛所需的時(shí)間。此外，通過增加液體樣品保持器檢測(cè)機(jī)構(gòu)，將液體樣品引入真空氣氛中不會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤，并且可以放心地進(jìn)行測(cè)量。
氣體保護(hù)型檢測(cè)器在分析過程中產(chǎn)生零氣體排放。 探測(cè)器無需安裝氣瓶。
通過采用r-θ驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，X射線強(qiáng)度不會(huì)因測(cè)量點(diǎn)而變化，并且映射位置分辨率為100μm，可以分析印刷電路板上的布線等微小部件，各種材料中的夾雜物是。
| 產(chǎn)品名稱 | ZSX Primus IVi | |
|---|---|---|
| 方法 | 波長(zhǎng)色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
| 目的 | 固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析 | |
| 技術(shù) | 掃描波長(zhǎng)色散 X 射線熒光分析 (WDXRF) | |
| 主要部件 | Rh 目標(biāo) 4kW 或 3kW，樣品交換器最多 60 個(gè)樣品 | |
| 主要選項(xiàng) | He替代、r-θ驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)、點(diǎn)/映射分析、樣品觀察機(jī)制 | |
| 控制（電腦） | 外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、ZSX 指導(dǎo)軟件 | |
| 機(jī)身尺寸 | 840（寬）×1250（高）×980（深）毫米 | |
| 體重（身體） | 500公斤 | |
| 電源 | 三相200V，40A，50/60Hz | |
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